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1. 一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法

崔伟,冯建华,叶红飞,闫鹏

北京大学学报（自然科学版）

摘要（767）

PDF（pc）（578KB）（342）

提出一种基于环路(Loopback)测试的内建自测试(BIST)方法。为了基于环路结构的内建自测试, 设计了一种可编程CMOS衰减器。具有内建自测试(BIST)电路RF收发器的测试结果表明, 此方法能够正确检测出系统故障, 可以应用于生产测试, 并能减少测试时间和测试成本。

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2. 一种3D IC TSV互连的内建自测试和自修复方法

王秋实,谭晓慧,龚浩然,冯建华

北京大学学报（自然科学版）

摘要（896）

PDF（pc）（637KB）（448）

提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV, 根据测试结构, 采用BISR电路配置TSV映射逻辑, 有故障的TSV可被BISR电路采用TSV冗余修复。所提出的设计可减小TSV测试价格, 并减少TSV缺陷引起的成品率损失。电路模拟表明, 面积代价和时间代价是可接受的。

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3. 基于有限状态机的硬件木马设计和插入

李蕾, 尚子靖, 冯建华, 张兴, 安辉耀

北京大学学报（自然科学版）

摘要（745）

PDF（pc）（1737KB）（582）

针对集成电路设计和制造中存在的硬件木马问题, 提出一种新的模型来提高木马检测能力。该模型基于有限状态机, 比组合电路型木马难于触发和检测。同时, 木马电路插入位置的选择也可以有效规避路径延时检测方法。实验选择ISCAS’89基准电路中的S349作为目标电路, 对功能和延时信息进行仿真。实验结果表明, 这种类型的木马难于激活, 并且选择合适的插入位置可以有效隐藏延时信息。

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4. 一种基于累积分布函数的抖动测量方法

郭健,冯建华,叶红飞

北京大学学报（自然科学版）

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5. 一种新的面向应用的FPGA测试方法

林腾,冯建华,赵建兵,王阳元

北京大学学报（自然科学版）

摘要（676）

提出一种新的面向应用的FPGA测试方法。该方法将FPGA设计配置(DC)抽象成由LUT、非LUT逻辑门、寄存器和互连线所组成的模型，将目标故障集设定为互连线的固定故障（SAFI）和LUT的功能故障（FFL）。提出了两种可选的测试配置（TC）以提高自动测试向量生成（ATPG）工具所得到的SAFI覆盖率，同时给出了可对LUT进行穷举测试的TC以检测FFL。实验结果表明，对于7个最大的ISCAS89基准电路，该方法可得到86.82%～99.16%的SAFI覆盖率和100%的FFL覆盖率。

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6. H.264/AVC帧内预测器的VLSI实现

朱忠平,冯建华,曹喜信

北京大学学报（自然科学版）

摘要（649）

提出了一种帧内预测电路的实现方法，在舍弃了平面预测模式情况下，通过多路选择器选择不同加法路径，和大量共用加法器，以较小代价实现了帧内预测所有剩余的预测模式。在基于SMIC CMOS 0.18 μm最坏工艺条件下，电路规模仅为4000门，关键路径延迟为5.7 ns。

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